VLSI design and test

dependable network systems

dependable computing

Social infrastructure (civil Engineering, architecture, disaster prevention), Social systems engineering, Social System Engineering/Safety System

Manufacturing technology (mechanical, electrical/electronic, chemical engineering), Communication and network engineering, Communication/Network Engineering

Informatics, Computer systems, Computer System Network

Social infrastructure (civil Engineering, architecture, disaster prevention), Safety engineering, Social System Engineering/Safety System

Apr. 2021 - Present
日本大学, 生産工学部 数理情報工学科, 教授

Apr. 2016 - Mar. 2021
日本大学, 生産工学部 数理情報工学科, 准教授

Apr. 2013 - Mar. 2016
日本大学, 生産工学部 数理情報工学科, 助教

Apr. 2005 - Mar. 2013
Tokyo Metropolitan University, Faculty of System Design, 助教

01 Apr. 2001 - 31 Mar. 2005
Tokyo Metropolitan University, Graduate School of Engineering

01 Apr. 2001 - 31 Mar. 2005
Graduate School of Engineering, Tokyo Metropolitan University

Apr. 2001 - Mar. 2005
Tokyo Metropolitan University, Graduate School of Engineering, 助手

01 Apr. 1999 - 31 Mar. 2001
Tokyo Metropolitan University, Graduate School of Engineering, Department of Electrical Engineering

Apr. 1999 - Mar. 2001
Tokyo Metropolitan University, Graduate School of Engineering, Department of Electrical Engineering

01 Apr. 1995 - 31 Mar. 1999
Tokyo Metropolitan University, Faculty of Engineering, Department of Electronics and Information Engineering

Apr. 1995 - Mar. 1999
Tokyo Metropolitan University, Faculty of Engineering, Department of Electronics and Information Engineering

Jun. 2019 - Present
Finance Chair, 30th IEEE Asian Test Symposium (ATS 2021)

Jan. 2019 - Present
Program Co-Chair, 21st IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT 2020)

Dec. 2018 - Present
Finance Chair, 24th IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC 2019)

Jun. 2018 - Present
Finance Chair, IEEE 3rd International Conference in Asia (ITC-Asia 2019)

Apr. 2018 - Present
ディペンダブルコンピューティング研究専門委員会幹事, 電子情報通信学会

Apr. 2010 - Present
常任査読委員, 電子情報通信学会

The 22nd IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT 2021 ) Best Paper Award
International society

電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会 2021年度最優秀講演賞
Japan society

IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter,Best Paper Award
Layout Feature Extraction Using CNN Classification in Root Cause Analysis of LSI Defects

電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会 2020年度最優秀講演賞
Japan society

IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing Best Paper Award - Honorable Mention
Official journal
Yoshikazu Nagamura;Takashi Ide;Masayuki Arai;Satoshi Fukumoto

The 20th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT ) Best Paper Award
International society

情報科学技術フォーラム (FIT) 2005 ヤングリサーチャー賞
畳込み圧縮器のXマスク確率に関する一考察

2004 Asian International Workshop on Advanced Reliability Modeling Best Paper Award
A Study on Reliable Multicast Applying Convolutional Codes over Finite Field

7th IEEE International Symposium on High Assurance Systems Engineering Young Researcher Award
Experiment for High-Assurance Video Conference Sysmtem over the Interne

武田計測先端知財団 武田研究奨励賞 優秀研究賞
Dependable System for SoC Design Applying Wide-Area SAN/NAS

An Estimation Method of Defect Types Using Artificial Neural Networks and Fault Detection Information
Natsuki Ota; Toshinori Hosokawa; Koji Yamazaki; Yukari Yamauchi; Masayuki Arai
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2023), Oct. 2023, Refereed
Last

Toward Improvement and Evaluation of Reconstruction Capability of CapsNet-Based Wafer Map Defect Pattern Classifier
Yuki Yamanaka; Masayuki Arai; Yoshikazu Nagamura; Satoshi Fukumoto
THE 7TH IEEE INTERNATIONAL TEST CONFERENCE IN ASIA (ITC-ASIA) 2023, Sep. 2023, Refereed
Corresponding

Reliability Evaluation of Cloud-Based Railway Signalling Systems,Using COTS-Based Asynchronous Processing
Takashi Toyama; Mamoru Ohara; Masayuki Arai; Satoshi Fukumoto
The 10th Asia-Pacific International Symposium on Advanced Reliability and Maintenance, Oct. 2022, Refereed

Note on CapsNet-Based Wafer Map Defect Pattern Classification
Itsuki Fujita; Yoshikazu Nagamura; Masayuki Arai; Satoshi Fukumoto
Proceedings of IEEE Asian Test Symposium, Nov. 2021, Refereed
Corresponding

An Estimation Method of Defect Types for Suspected Logical Faulty Lines Using Artificial Neural Networks and Fault Detection Information of Universal Logical Fault Model
Natsuki Ohta; Toshinori Hosokawa; Koji Yamazaki; Yukari Yamauchi and Masayuki Arai
Proceedings of IEEE Workshop on RTL and High Level Test (WRTLT 2021), Nov. 2021, Refereed
Last

Layout Feature Extraction using CNN Classification in Root Cause Analysis of LSI Defects
Yoshikazu Nagamura; Koji Arima; Masayuki Arai; Satoshi Fukumoto
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, May 2021, Refereed, Not invited

Evaluation of CNN-Based Defect Location Estimation on LSI Layouts
Yoshikazu Nagamura; Masayuki Arai and Satoshi Fukumoto
Proceedings of IEEE Workshop on RTL & High Level Testing (WRTLT 2020), Nov. 2020, Refereed, Not invited
Corresponding

CNN-based Layout Segment Classification for Analysis of Layout-induced Failures
Yoshikazu Nagamura; Takashi Ide; Masayuki Arai; Satoshi Fukumoto
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Nov. 2020, Refereed, Not invited

Multiple Target Test Generation Method for Gate-Exhaustive Faults to Reduce the Number of Test Patterns Using Partial MaxSAT
Ryuki Asami; Toshinori Hosokawa; Masayoshi Yoshimura; Masayuki Arai
The 33rd IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2020), Oct. 2020, Refereed, Not invited

A Fine-Grained SDN Rule Table Partitioning and Distribution
Yutaro Yoshikawa; Masayuki Arai
Proceedings of IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC 2019), Dec. 2019, Refereed, Not invited

A Don't Care Identification-Filling Co-Optimization Method for Low Capture Power Testing Using Partial MaxSAT
Kenichiro Misawa; Toshinori Hosokawa; Hiroshi Yamazaki; Masayoshi Yoshimura and Masayuki Arai
Proceedings of IEEE Workshop on RTL & High Level Testing (WRTLT 2019), Nov. 2019, Refereed, Not invited

A Low Capture Power Oriented X-filling Method Using Partial MaxSAT Iteratively
T. Hosokawa; K. Misawa; Y. Hirama; H.Yamazaki; M. Yoshimura and M. Arai
The 32nd IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2019), Oct. 2019, Refereed, Not invited

A SAT-Based Approach for SDN Rule Table Distribution
Ryota Ogasawara; Masayuki Arai
Proceedings of IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC 2018), Dec. 2018, Refereed, Not invited
Corresponding

Layout-Aware Fast Bridge/Open Test Generation by 2-Step Pattern Reordering
Masayuki Arai; Shingo Inuyama; Kazuhiko Iwasaki
IEICE TRANSACTIONS on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, Dec. 2018, Refereed, Not invited
Lead

パイプラインプロセッサにおけるカスケードTMRの歩留りと欠陥レベルの解析手法
新井雅之,岩崎一彦
電子情報通信学会和文論文誌D, Oct. 2018, Refereed, Not invited
Lead

A Sequentially Untestable Fault Identification Method Based on n-Bit State Cube Justification
Toshinori HOSOKAWA; Morito NISEKI; Masayoshi YOSHIMURA; Hiroshi YAMAZAKI; Masayuki ARAI; Hiroyuki YOTSUYANAGI; Masaki HASHIZUME
24th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, Jun. 2018, Refereed, Not invited

Layout-Based Test Coverage Verification for High-Reliability Devices
Yoshikazu Nagamura; Kenji Shiozawa; Toru Koyama; Jun Matsushima; Kazuhiro Tomonaga; Yutaka Hoshi; Shuji Nomura; Masayuki Arai; Kazuhiko Iwasaki
IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING, Nov. 2017, Refereed, Not invited

A Dynamic Test Compaction Method on Low Power Test Generation Based on Capture Safe Test Vectors
Toshinori Hosokawa; Atsushi Hirai; Hiroshi Yamazaki and Masayuki Arai
Proceedings of IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), Oct. 2017, Refereed, Not invited

Layout-Aware 2-Step Window-based Pattern Reordering for Fast Bridge/Open Test Generation
Masayuki Arai; Shingo Inuyama; Kazuhiko Iwasaki
Proceedings of International Test Conference (ITC), Oct. 2017, Refereed, Not invited
Lead

A Low Capture Power Test Generation Method Based on Capture Safe Test Vector Manipulation
Toshinori Hosokawa; Atsushi Hirai; Yukari Yamauchi; Masayuki Arai
IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, Sep. 2017, Refereed, Not invited

Data Aggregation on Smart Grid Communications Considering Fault Tolerance and Privacy
Ryota Ogasawara; Masayuki Arai
Proceedings of International Future Energy Electronics Conference (IFEEC) - ECCE Asia, Jul. 2017, Refereed, Not invited
Corresponding

Reordering-Based Test Pattern Reduction Considering Critical Area-Aware Weighted Fault Coverage
Masayuki Arai; Kazuhiko Iwasaki
IEICE TRANSACTIONS ON FUNDAMENTALS OF ELECTRONICS COMMUNICATIONS AND COMPUTER SCIENCES, Jul. 2017, Refereed, Not invited

Spare-Tile-Based Dependable Logic Design for Sea-of-Tiles Architecture with Ambipolar Devices
Dan Takahashi; Masayuki Arai
Proceedings of IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC 2017), Jan. 2017, Refereed, Not invited
Corresponding

Erasure-Code-Based DTN Multi-Path Routing for Contact Avoidance
Hironori Arai; Masayuki Arai
Proceedings of IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC 2017), Jan. 2017, Not refereed, Not invited
Corresponding

Spare-Tile-Based Dependable Logic Design for Sea-of-Tiles Architecture with Ambipolar Devices
Dan Takahashi; Masayuki Arai
Proceedings of IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC 2017), Jan. 2017, Not refereed, Not invited
Corresponding

Fault masking issue on a dependable processor using BIST under highly electromagnetic environment
Aromhack Saysanasongkham; Satoshi Fukumoto; Masayuki Arai
International Journal of Computational Science and Engineering, 2017, Refereed, Not invited

Layout-Based Test Coverage Verification for High-Reliability Devices
Yoshikazu Nagamura; Kenji Shiozawa; Toru Koyama; Jun Matsushima; Kazuhiro Tomonaga; Yutaka Hoshi; Shuji Nomura; Masayuki Arai; Kazuhiko Iwasaki
Proceedings of International Symposium on Semiconductor Manufacturing (ISSM), Dec. 2016, Not refereed, Not invited

Critical-Area-Aware Test Pattern Generation and Reordering
Shingo Inuyama; Kazuhiko Iwasaki; Masayuki Arai
Proceedings of IEEE Asian Test Symposium (ATS 2016), Nov. 2016, Not refereed, Not invited
Corresponding

Note on Dependable Logic Design by Ambipolar Device and Its Fault Modeling
Dan Takahashi; Masayuki Arai
Proceedings of IEEE Workshop on RTL & High Level Testing (WRTLT 2015), Nov. 2015, Refereed, Not invited
Corresponding

物理的なテストカバレッジ (物理カバー率) の検証方法の開発
永村美一; 小山徹; 松嶋潤; 朝永和洋; 星豊; 野村周司; 岩崎一彦; 新井雅之
第36回ナノテスティングシンポジウム, Nov. 2015, Refereed, Not invited

Testbeds of a Hybrid-ARQ-Based Reliable Communication for CANs in Highly Electromagnetic Environments
Muneyuki Nakamura; Mamoru Ohara; Aromhack Saysanasongkham; Masayuki Arai; Kazuya Sakai; Satoshi Fukumoto; Keiji Wada
Proceedings of the IEEE Future Energy Electronics Conference (IFEEC 2015), Nov. 2015, Refereed, Not invited
Corresponding

A low capture power test generation method using capture safe test vectors
Atsushi Hirai; Toshinori Hosokawa; Yukari Yamauchi; Masayuki Arai
Proceedings of 20th IEEE European Test Symposium, Jun. 2015, Refereed, Not invited

Distributed Data Replication Protocol for File Versioning
池田貴彦,大原衛,福本聡,新井雅之,岩崎一彦,木村光宏
電子情報通信学会論文誌D, Apr. 2015, Refereed, Not invited

Side Effect Mitigation Algorithm for Cache Maintenance in Opportunistic Networks
Satoshi Fukumoto; Masayuki Arai; Kazuya Sakai
2015 44TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON PARALLEL PROCESSING WORKSHOPS, 2015, Refereed, Not invited

Note on fast bridge fault test generation based on critical area
Masayuki Arai; Shingo Inuyama; Kazuhiko Iwasaki
Lecture Notes in Computer Science (including subseries Lecture Notes in Artificial Intelligence and Lecture Notes in Bioinformatics), 2015, Refereed, Not invited

A Simulation Based Low Capture Power Test Generation Method Using Capture Safe Test Vectors
Atsushi Hirai; Toshinori Hosokawa; Yukari Yamauchi and Masayuki Arai
Proceedings of IEEE Workshop on RTL & High Level Testing (WRTLT'14), Nov. 2014, Refereed, Not invited

Hybrid ARQ for DC-DC Converter Noise in Controller Area Networks
Muneyuki Nakamura; Mamoru Ohara; Aromhack Saysansongkham; Masayuki Arai; Kazuya Sakai; and Satoshi Fukumoto
Proceedings of the International Workshop on Applications of Wireless Ad Hoc and Sensor Networks (AWASN), Sep. 2014, Refereed, Not invited

Application-Layer Hybrid ARQ in CAN Networks for Tolerating DC-DC Converter Noise
Masahiko Negishi; Aromhack Saysanasongkham; Muneyuki Nakamura; Mamoru Ohara; Masayuki Arai; Satoshi Fukumoto
Proceedings of International Conference on Dependable Systems and Networks, Jun. 2014, Refereed, Not invited

Study on Routing Protocol for Structured P2P Network Taking Account of the Nodes Which Behave Like a Byzantine Fault
Satoshi Fukumoto; Tomoki Endo; Manoru Ohara; Masayuki Arai
2014 20TH IEEE PACIFIC RIM INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DEPENDABLE COMPUTING (PRDC 2014), 2014, Refereed, Not invited

A highly reliable digital current control using an adaptive sampling method
Aromhack Saysanasongkham; Masayuki Arai; Satoshi Fukumoto; Shun Takeuchi; Keiji Wada
IEEJ Journal of Industry Applications, 2014, Refereed, Not invited

An Adaptive Sampling Method for a Highly Reliable Digital Control Power Converter
K. Wada; A. Saysanasongkham; S. Fukumoto; S. Takeuchi; M. Arai
Proceedings of International Future Energy Electronics Conference 2013 (IFEEC 2013), Nov. 2013, Refereed, Not invited

Note on Test Pattern Reordering for Weighted Fault Coverage Improvement
Proceedings of IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 2013 (WRTLT 2013), Nov. 2013, Refereed, Not invited

An Adaptive Approach to Dependable Circuits for a Digital Power Control
A. Saysanasongkham; K. Imai; M. Arai; S. Fukumoto; K. Wada
Proceedings of International Conference on Dependable Systems and Networks, Jun. 2013, Refereed, Not invited

A Note on Influence of DC-DC Converter Noise in CAN Networks
Mamoru Ohara; Masayuki Arai; Satoshi Fukumoto
2013 IEEE 19TH PACIFIC RIM INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DEPENDABLE COMPUTING (PRDC 2013), 2013, Refereed, Not invited

Checkpoint Time Arrangement Rotation in Hybrid State Saving with a Limited Number of Periodical Checkpoints
R. Suzuki; M. Ohara; M. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki
IEICE Transactions on Information and Systems, Jan. 2013, Refereed, Not invited

Analyses of Optimal Checkpoint Density for Hybrid State Saving in Consideration of Memory Usage
S. Fukumoto; M. Ohara; M. Arai
Proceedings of The 5th Asia-Pacific International Symposium on Advanced Reliability and Maintenance Modeling (APARM 2012), Nov. 2012, Refereed, Not invited

Note on Layout-Aware Weighted Probabilistic Bridge Fault Coverage
M. Arai; Y. Shimizu; K. Iwasaki
Proceedings of 2012 IEEE 21st Asian Test Symposium (ATS 2012), Nov. 2012, Refereed, Not invited
Lead

A Dependable Processor by Using Built in Self Test to Tolerate Periodical Transient Faults under Highly Electromagnetic Environment
A. Saysanasongkham; M. Negishi; M. Arai; S. Fukumoto
Proceedings of 2012 IEEE 18th Pacific Rim International Symposium on Dependable Computig (PRDC 2012), Nov. 2012, Refereed, Not invited

A Note on Dependable Processor for Periodical Transient Faults under High Electromagnetic Environment
Aromhack Saysanasongkam; Masahiko Negishi; Masayuki Arai; Satoshi Fukumoto
Proceedings of The 42nd Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks (DSN 2012), Jun. 2012, Refereed, Not invited

Area-Per-Yield and Defect Level of Cascaded TMR for Pipelined Processors
M. Arai; K. Iwasaki
Proceedings of 2011 IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computig (PRDC 2011), Dec. 2011, Refereed, Not invited
Lead

Self-Calibration Using Functional BIST for Transient-Fault-Tolerant Sequential Circuits in Severe Electromagnetic Environment
M. Arai; A. Saysanasongkham; K. Imai; Y. Koyama; S. Fukumoto
Proceedings of IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 2011 (WRTLT 2011), Nov. 2011, Refereed, Not invited
Lead

Optimal Checkpoint Density for Hybrid State Saving
M. Ohara; S. Fukumoto and M. Arai
Proceedings of 4th Asia-Pacific International Symposium on Advanced Reliability and Maintenance Modeling (APARM 2010), Dec. 2010, Refereed, Not invited

Study on Insertion Point and Area Observation Circuit for On-Chip Debug Technique
M. Arai; Y. Tabata; K. Iwasaki
Proceedings of IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 2010 (WRTLT 2010), Dec. 2010, Refereed, Not invited
Lead

A Distributed Data Replication Protocol for File Versioning with Optimal Node Assignments
T. Ikeda; M. Ohhara; S. Fukumoto; M.Arai; K. Iwasaki
Proceedings of 2010 IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computig (PRDC 2010), Dec. 2010, Refereed, Not invited

Reduction of Area per Good Die for SoC Memory Built-In Self-Test
M. Arai; T. Endo; K. Iwasaki; M. Nakao; I. Suzuki
IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, Dec. 2010, Refereed, Not invited
Lead

Stochastic and Statistical Analyses of the Distribution of Fault Coverage in Random-Pattern Testing
S. Fukumoto; H. Kurokawa; M. Arai; K. Iwasaki
Proceedings of 10th International Symposium on Communications and Information Technology (ISCIT 2010), Oct. 2010, Refereed, Not invited

Reduction of Test Data Volume and Improvement of Diagnosability Using Hybrid Compression
A. Uzzaman; B. Keller; T. Snethen; K. Iwasaki; M. Arai
IEICE Transactions on Information and Systems, Jan. 2010, Refereed, Not invited

Automatic Handling of Programmable On-Product Clock Generation (OPCG) Circuitry for Low Power Aware Delay Test
A. Uzzaman; B. Keller; T. Snethen; K. Iwasaki; M. Arai
Journal of Low Power Electronics, Dec. 2009, Refereed, Not invited

Small Delay Fault Model for Intra-Gate Resistive Open Defects
M. Arai; A. Suto; K. Iwasaki; K. Nakano; M. Shintani; K. Hatayama; T. Aikyo
Proceedings of IEEE VLSI Test Symposium 2009 (VTS 2009), Apr. 2009, Refereed, Not invited
Lead

Stochastic analyses for hybrid state saving and its experimental validation
Mamoru Ohara; Masayuki Arai; Satoshi Fukumoto
Stochastic Reliability Modeling, Optimization and Applications, Jan. 2009, Refereed, Not invited

Tester Structure Expression language and Its Application to the Environment for VLSI Tester Program Development
M. Sato; H. Wakamatsu; M. Arai; K. Ichino; K. Iwasaki; T. Asakawa
Journal of Information Processing Systems, Dec. 2008, Refereed, Not invited

Study on Hardware Overhead Reduction and Fault Location for Memory BIST
M. Arai; T. Endo; K. Iwasaki; M. Nakao; and I. Suzuki
Proceedings of Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT), Nov. 2008, Refereed, Not invited
Lead

A Fundamental Study on Time-Redundancy-Based Algorithms for Distributed Asynchronous TMR
M. Ohara; M. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki
Proceedings of Asian International Workshop on Advanced Reliability Modeling (AIWARM), Oct. 2008, Refereed, Not invited

Analysis of Probabilistic Trapezoid Protocol for Data Replication
T. Suzuki; M. Ohara; M. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki
IPSJ Journal, Jun. 2008, Refereed, Not invited
Corresponding

非連携チェックポインティングにおいて同時多重メディア障害を考慮したチェックポイント・ミラーリング手法
大原衛; 上杉賢弘; 新井雅之; 福本聡
情報処理学会論文誌, Jun. 2008, Refereed, Not invited

Study on Expansion of Convolutional Compactors over Galois Field
M. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki
IEICE Transactions on Information and Systems, Mar. 2008, Refereed, Not invited
Lead

Study on Hardware Overhead Reduction for Memory BIST
K. Osawa; M. Arai; K. Iwasaki; and M. Nakao
Proceedings of Workshop on Silicon Debug and Diagnosis (SDD), Mar. 2008, Refereed, Not invited
Corresponding

Study on Test Data Reduction Combining Illinois Scan and Bit Flipping
M. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki
IEICE Transactions on Information and Systems, Mar. 2008, Refereed, Not invited
Lead

Test Data Compression for Scan-Based BIST Aiming at 100x Compression Rate
M. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki; T. Matsuo; T. Hiraide; H. Konishi; M. Emori; T. Aikyo
IEICE Transactions on Information and Systems,, Mar. 2008, Refereed, Not invited
Lead

Tester Structure Expression Language and Its Application to Tester Selection
M. Sato; H. Wakamatsu; M. Arai; K. Ichino; K. Iwasaki; T. Asakawa
Proceedings of IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 2007 (WRTLT 2007), Oct. 2007, Refereed, Not invited

Time Redundancy Processor with the Tolerance to Transient Faults Caused by Electromagnetic Waves
M. Kimura; M. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki
Proceedings of Workshop on Dependable and Secure Nanocomputing (WDSN), Jun. 2007, Refereed, Not invited

Recoverability of Rotational Uncoordinated Checkpointing
M. Ohara; T. Uesugi; M. Arai; S. Fukumoto
Proceedings of The 37th Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks (DSN), Jun. 2007, Refereed, Not invited

Effectivity Validation of Stochastic Analyses for Hybrid State Saving
M. Ohara; M. Arai; S. Fukumoto
Proceedings of International Workshop on Recent Advances in Stochastic Operations Research, Mar. 2007, Refereed, Not invited

A proposal and evaluation of a coordinated checkpointing technique using incremental snapshots
Mamoru Ohara; Masayuki Arai; Satoshi Fukumoto; Kazuhiko Iwasaki
ELECTRONICS AND COMMUNICATIONS IN JAPAN PART III-FUNDAMENTAL ELECTRONIC SCIENCE, 2007, Refereed, Not invited

A Note on Test Data Reduction Combining Illinois-Scan with Bit Flipping
M. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki)
Proceedings of IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 2006 (WRTLT 2006), Nov. 2006, Refereed, Not invited
Lead

Expansion of Convolutional Compactors over Galois Field
M. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki
Proceedings of IEEE Asian Test Symposium 2006 (ATS 2006), Nov. 2006, Refereed, Not invited
Lead

Test Data Compression of 100x for Scan Based BIST
M. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki; T. Matsuo; T. Hiraide; H. Konishi; M. Emori; T. Aikyo
Proceedings of IEEE International Test Conference 2006 (ITC 2006), Nov. 2006, Refereed, Not invited
Lead

Analytical Model on Hybrid State Saving with a Limited Number of Checkpoints and Bound Rollbacks
M. Ohara; R. Suzuki; M. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki
IEICE Transactions on Fundamentals, Sep. 2006, Refereed, Not invited

差分スナップショットを伴う連携チェックポインティングの提案と評価
大原衛; 新井雅之; 福本聡; 岩崎一彦
電子情報通信学会論文誌A,, May 2006, Refereed, Not invited

Extension of coefficients for (n, k, m) convolutional-code-based packet loss recovery
M Arai; S Fukumoto; K Iwasaki
COMPUTERS & MATHEMATICS WITH APPLICATIONS, Jan. 2006, Refereed, Not invited

Extension of Coefficients for (n, k, m) Convolutional-Code-Based FEC
M. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki
Computers & Mathematics with Applications, An International Journal, Jan. 2006, Refereed, Not invited
Lead

Expansion of convolutional compactors over Galois field
Masayuki Arai; Satoshi Fukumoto; Kazuhiko Iwasaki
PROCEEDINGS OF THE 15TH ASIAN TEST SYMPOSIUM, 2006, Refereed, Not invited

Analysis of Error-Masking and X-Masking Probabilities for Convolutional Compactors
M. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki
Proceedings of IEEE International Test Conference 2005 (ITC 2005), Nov. 2005, Refereed, Not invited
Lead

On the Optimal Checkpoint Interval for Uncoordinated Checkpointing with a Limited Number of Checkpoints and Bound Rollbacks
M. Ohara; M. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki
Proceedings of 2005 International Workshop on Recent Advances in Stochastic Operations Research (RASOR 2005), Aug. 2005, Refereed, Not invited

Reliability Evaluation of Packet-Level FEC Based on a Convolutional Code Considering Generator Matrix Density
T. Hino; M. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki
Proceedings of 2005 International Workshop on Recent Advances in Stochastic Operations Research (RASOR 2005), Aug. 2005, Refereed, Not invited

Test Data Compression Using TPG Reconstruction for BIST-Aided Scan Test
M. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki; T. Hiraide; T. Aikyo
Proceedings of IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 2005 (WRTLT 2005), Jul. 2005, Refereed, Not invited
Lead

Analysis of Probabilistic Trapezoid Protocol for Data Replication
T. Suzuki; M. Ohara; *. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki
Proceedings of IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks (DSN 2005), Jun. 2005, Refereed, Not invited
Corresponding

A Note on Reliable Multicast Applying Convolutional-Code-Based FEC over Finite Field
M. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki
International Journal of Reliability, Quality and Safety Engineering, Jun. 2005, Refereed, Not invited
Lead

低消費電力基板型再構成テスタの開発
佐藤正幸,大塚信行,武藤治,新井雅之, 福本聡,岩崎一彦,上原孝二,志水勲, 間明田治佳
電子情報通信学会論文誌D-I, Jun. 2005, Refereed, Not invited

Reliability Analysis of a Convolutional-Code-Based Packet Level FEC under Limited Buffer Size
M. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki
IEICE Transactions on Fundamentals, Apr. 2005, Refereed, Not invited
Lead

Reliability analysis of a convolutional-code-based packet level FEC under limited buffer size
M Arai; S Fukumoto; K Iwasaki
IEICE TRANSACTIONS ON FUNDAMENTALS OF ELECTRONICS COMMUNICATIONS AND COMPUTER SCIENCES, Apr. 2005, Refereed, Not invited

Method to recover lost Internet packets using (n, k, m) convolutional codes
M Arai; A Yamaguchi; S Fukumoto; K Iwasaki
ELECTRONICS AND COMMUNICATIONS IN JAPAN PART III-FUNDAMENTAL ELECTRONIC SCIENCE, 2005, Refereed, Not invited

Seed Selection Procedure for LFSR-Based BIST with Multiple Scan Chains and Phase Shifters
M. Arai; H. Kurokawa; K. Ichino; S. Fukumoto; K. Iwasaki
Proceedings of IEEE Asian Test Symposium 2004 (ATS 2004), Nov. 2004, Refereed, Not invited
Lead

Low-power Board-mounted Reconfigurable Tester Based on HDL Descriptions
M. Sato; N. Otsuka; O. Muto; M. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki; K. Uehara; I. Shimizu; H. Mamyouda
Proceedings of IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 2004 (WRTLT 2004), Nov. 2004, Refereed, Not invited

A Study on Reliable Multicast Applying Convolutional Codes over Finite Field
M. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki
Proceedings of Asian International Workshop on Advanced Reliability Modeling (AIWARM), Aug. 2004, Refereed, Not invited
Lead

Finding a Recovery Line in Uncoordinated Checkpointing
M. Ohara; M. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki
Proceedings of 24th International Conference on Distributed Computing Systems Workshops, Apr. 2004, Refereed, Not invited

(n, k, m)畳込み符号を用いたパケット損回復方式の提案
新井雅之; 山口アンナ; 福本聡; 岩崎一彦
電子情報通信学会論文誌A, Apr. 2004, Refereed, Not invited
Lead

Analysis of Read and Write Availability for Generalized Hybrid Data Replication Protocol
M. Arai; T. Suzuki; M. Ohara; S. Fukumoto; K. Iwasaki; H. Y. Youn
Proceedings of IEEE 10th Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC-10), Mar. 2004, Refereed, Not invited
Lead

Application of Partially Rotational Scan Technique with Tester IP for Processor Circuits
K. Ichino; K. Watanabe; M. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki
IEICE Transactions on Information and Systems, Mar. 2004, Refereed, Not invited

Mixed-signal LSI relationship among measurement accuracy, yield, and test time
Hideo Kohinata; Masayuki Arai; Satoshi Fukumoto; Kazuhiko Iwasaki
Proceedings - 2004 IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing, DBT 2004, 2004

Seed Selection Procedure for LFSR-Based Random Pattern Generators
K. Ichino; K. Watanabe; M. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki
IEICE Transactions on Fundamentals, Dec. 2003, Refereed, Not invited

Implementation of Memory Tester Consisting of SRAM-Based Reconfigurable Cells
Y. Yamagata; K. Ichino; M. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki; M. Sato; H. Itabashi; T. Murai; N. Otsuka
Proceedings of IEEE Asian Test Symposium 2003 (ATS 2003), Nov. 2003, Refereed, Not invited

A Technique for Constructing Dependable Internet Server Cluster
M. Ohara; M. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki
IEICE Transactions on Communications, Oct. 2003, Refereed, Not invited

High-Assurance Video Conference System over the Internet
M. Arai; H. Kurosu; M. Ohara; R. Suzuki; S. Fukumoto; K. Iwasaki
IEICE Transactions on Communications, Oct. 2003, Refereed, Not invited
Lead

A Technique for Constructing Dependable Internet Server Cluster
Mamoru Ohara; Masayuki Arai; Satoshi Fukumoto; Kazuhiko Iwasaki
IEICE Transactions on Information and Systems, 2003

A seed selection procedure for LFSR-based random pattern generators
K Ichino; KI Watanabe; M Arai; S Fukumoto; K Iwasaki
ASP-DAC 2003: PROCEEDINGS OF THE ASIA AND SOUTH PACIFIC DESIGN AUTOMATION CONFERENCE, 2003, Refereed, Not invited

A Seed Selection Procedure for LFSR-Based Random Pattern Generator
K. Ichino; K. Watanabe; M. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki
Proceedings of Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC), Jan. 2003, Refereed, Not invited

Evaluation of Convolutional-Code-Based FEC under Limited Recovery Time and Its Application to Real-Time Transmission
M. Arai; H. Kurosu; S. Fukumoto; K. Iwasaki
Proceedings of IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing 2002 (PRDC 2002), Dec. 2002, Refereed, Not invited
Lead

Experiment for High-Assurance Video Conference Sysmtem over the Internet
M. Arai; H. Kurosu; M. Ohara; R. Suzuki; S. Fukumoto; K. Iwasaki
Proceedings of 7th IEEE International Symposium on High-Assurance Systems Engineering (HASE 2002), Nov. 2002, Refereed, Not invited
Lead

Application of Partially Rotational Scan Technique to Processor Circuits
K. Ichino; K. Watanabe; M. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki
Proceedings of IEEE Workshop on RTL ATPG & DFT (WRTLT), Nov. 2002, Refereed, Not invited

A Study on Extention of Coefficients for (n, k, m) Convolutional-Code-Based FEC
M. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki
Proceedings of 2nd Euro-Japanese Workshop on Stochastic Risk Modelling for Finance, Insurance, Production and Reliability, Sep. 2002, Refereed, Not invited
Lead

Fault-Tolerance Design for Multicast Using Convolutional-Code-Based FEC and Its Analytical Evaluation
A.Yamaguchi; M. Arai; H. Kurosu; S. Fukumoto; K. Iwasaki
IEICE Transactions on Information and Systems, May 2002, Refereed, Not invited

Analytical Evaluation of Internet Packet Loss Recovery Using Convolutional Codes
A. Yamaguchi; M. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki
IEICE Transactions on Information and Systems, May 2002, Refereed, Not invited

Analytical evaluation of internet packet loss recovery using convolutional codes
Anna Yamaguchi; Masayuki Arai; Satoshi Fukumoto; Kazuhiko Iwasaki
IEICE Transactions on Information and Systems, 2002

Analysis of Using Convolutional Codes to Recover Packet Losses over Burst Erasure Channels
M. Arai; A. Yamamoto; A. Yamaguchi; S. Fukumoto; K. Iwasaki
Proceedings of IEEE 2001 Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing, Dec. 2001, Refereed, Not invited
Lead

インターネット上のエンドホスト間通信におけるバーストパケット損の測定
新井雅之; 千葉篤,岩崎一彦
電子情報通信学会論文誌DI, Jul. 2001, Refereed, Not invited
Lead

Analytical Evaluation of the Recoverability of Internet Packet Losses with Punctured Convolutional Codes
A. Yamaguchi; M. Arai; S. Fukumoto; K. Iwasaki
Proceedings of 10th International Symposium on Applied Stochastic Models and Data Analysis (ASMDA), Jun. 2001, Refereed, Not invited

Evaluation of Multicast Error Recovery Using Convolutional Codes
A. Yamaguchi; M. Arai; K. Iwasaki
Proceedings of IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC 2000), Dec. 2000, Refereed, Not invited

Analysis of the Recoverability of Internet Packet Losses with (n, n - 1, m) Convolutional Codes
A. Yamaguchi; M. Arai; K. Iwasaki
Proceedings of IEEE Workshop on IP-oriented Operations & Management (IPOM 2000), Sep. 2000, Refereed, Not invited

Method to Recover Internet Packet Losses Using (n, n - 1, m) Convolutional Codes
M. Arai; A. Yamaguchi; K. Iwasaki
Proceedings of IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks (DSN 2000), Jun. 2000, Refereed, Not invited
Lead

Measurement and Modeling of Burst Packet Losses in Internet End-to-End Communications
M. Arai; A. Chiba; K. Iwasaki
Proceedings of IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC 1999), Dec. 1999, Refereed, Not invited
Lead

確率モデルによるCOTSベースクラウド型鉄道信号システムの信頼性・安全性評価
高松純貴; 遠山 喬; 大原 衛; 新井雅之; 福本 聡
組込み技術とネットワークに関するワークショップ (ETNET2024), Mar. 2024

擬似ブール最適化を用いた2サイクルゲート網羅故障のための低消費電力指向複数目標故障テスト生成法
溝田桃菜; 細川利典; 吉村正義; 新井雅之
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, Feb. 2024

CapsNetによるウェハマップ欠陥パターン分類精度の改善
山中祐輝; 永村美一; 新井雅之; 福本 聡
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, Feb. 2024

ブートストラップ法を用いたウェハマップ欠陥パターン分類におけるラベリングの評価
黒川 潤; 永村美一; 新井雅之; 福本 聡
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会（Winter Workshop on Safety), Dec. 2023

組込み自己テストにおける両立可能故障集合を用いた複数ランダムパターンレジスタント故障のシード生成法
曽根隆暢; 細川利典; 吉村正義; 新井雅之
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会（Winter Workshop on Safety), Dec. 2023

レイアウト起因LSI欠陥検出における欠陥モデルとデータ拡張手法の検討
杉岡拓海; 永村美一; 新井雅之; 福本 聡
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会（デザインガイア 2023), Nov. 2023

攻撃者を考慮したモバイルクラウドソーシングにおける協調タスク依頼手法の評価
内田直希; 稲垣景子; 福本 聡; 新井雅之
2023年並列／分散／協調処理に関する『函館』サマー・ワークショップ (SWoPP2023), Aug. 2023

COTSベースクラウド型鉄道信号システムにおける乗っ取りを考慮した信頼性評価に関する一考察
高松純貴; 遠山 喬; 大原 衛; 新井雅之; 福本 聡
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会，コンピュータシステム研究会，情報処理学会アーキテクチャ研究会合同研究会(HotSPA2023), Jun. 2023

CapsNetを用いた高解像度ウェハマップの欠陥パターン分類法におけるScratch再構成に関する考察
山中祐輝,永村美一,新井雅之,福本聡
組込み技術とネットワークに関するワークショップ (ETNET2023), Mar. 2023

2パターン並列テストのためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法
徐浩豊,細川利典,吉村正義,新井雅之
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, Feb. 2023, Not invited

レイアウト起因LSI欠陥検出のためのFSGANを用いたデータ拡張に関する検討
杉岡拓海,永村美一,新井雅之,福本聡
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, Feb. 2023

並列テストのためのコントローラの制御信号のドントケア割当てアルゴリズム
徐浩豊,細川利典,吉村正義,新井雅之
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会，コンピュータシステム研究会，情報処理学会アーキテクチャ研究会合同研究会(HotSPA2022), Oct. 2022

CapsNetを用いた高解像度ウェハマップの欠陥パターン分類法に関する考察
山中祐輝,永村美一,新井雅之,福本聡
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会，コンピュータシステム研究会，情報処理学会システム・アーキテクチャ研究会合同研究会(HotSPA2022), Oct. 2022

故障励起条件を用いた低消費電力指向テスト生成法の高速化
三浦怜,細川利典,吉村正義,新井雅之)
2022年並列／分散／協調処理に関する『下関』サマー・ワークショップ (SWoPP2022), Jul. 2022

時空間冗長に基づくCOTSベースクラウド型鉄道信号システムの信頼性評価
高松純貴,遠山喬,大原衛,新井雅之,福本聡
2022年並列／分散／協調処理に関する『下関』サマー・ワークショップ (SWoPP2022), Jul. 2022

論理故障テスト並列化のための制御信号のドントケア割当て法
徐浩豊,細川利典,山崎紘史,新井雅之,吉村正義
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会(ETNET 2022), Mar. 2022

AIによるLSI レイアウト上の欠陥検出のための新しい欠陥モデルの検討
川口大樹,藤田樹,永村美一,新井雅之,福本聡
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会(ETNET 2022), Mar. 2022

CapsNetを用いた多重欠陥ウェハマップ不良パターンの分類に関する一考察
藤田樹,新井雅之,松田忠勝,永村美一,福本聡
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, Mar. 2022

ニューラルネットワークと故障検出情報を用いたマルチサイクルキャプチャテストにおける論理故障に関する欠陥種類推定法
太田菜月,細川利典,山崎浩二,新井雅之,山内ゆかり
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, Mar. 2022

クラウド型鉄道信号における同期ラウンドモデル上の非同期処理
遠山喬,大原衛,新井雅之,福本聡
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, Dec. 2021

低消費電力指向多重目標故障テスト生成法
三浦怜,細川利典,山崎紘史,吉村正義,新井雅之
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, Dec. 2021

LSIレイアウト画像の分類におけるLight-Weight GANを用いたデータ拡張手法の検討
川口大樹,永村美一,新井雅之,福本聡
電子情報通信学会コンピュータシステム，ディペンダブルコンピューティング研究会，情報処理学会システム・アーキテクチャ研究会合同研究会 (HotSPA2021), Oct. 2021

ニューラルネットワークを用いた被疑論理故障信号線の欠陥種類推定法
太田菜月,細川利典,山崎浩二,山内ゆかり,新井雅之
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会(ETNET 2021), Mar. 2021, Not invited

CNNによるLSIレイアウト画像分類におけるデータ拡張手法の検討
村川魁,永村美一,新井雅之,福本聡
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, Feb. 2021, Not invited

RTLハードウェア要素のテストスケジューリング情報を用いた多重目標故障テスト生成法
浅見竜輝,細川利典,山崎紘史,吉村正義,新井雅之
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, Feb. 2021, Not invited

CNNに基づくLSIレイアウト上の欠陥位置推定法に関する一考察
永村美一,新井雅之,福本聡
電子情報通信学会コンピュータシステム，ディペンダブルコンピューティング研究会，情報処理学会システム・アーキテクチャ研究会合同研究会 (HotSPA2020), Oct. 2020, Not invited

テストパターン数削減のためのゲート網羅故障の多重目標故障テスト生成法
浅見竜輝,細川利典,吉村正義,新井雅之
2020年並列／分散／協調処理に関する『福井』サマー・ワークショップ (SWoPP2020), Jul. 2020, Not invited

遺伝的アルゴリズムに基づくNoCの冗長経路配置探索に関する一検討
松田忠勝,新井雅之
2020年電子情報通信学会総合大会, Mar. 2020, Not invited

パーシャルMAX-SATを用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法
山崎紘史,石山悠太,松田竜馬,細川利典,吉村正義,新井雅之,四柳浩之,橋爪正樹
電子情報通信学会VLD研究会, Mar. 2020, Not invited

周波数およびゲートウェイ多重化によるLoRa通信の高信頼化に関する一検討
工藤光平,佐々木一稀,新井雅之
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会(ETNET 2020), Feb. 2020, Not invited

パーシャルMaxSATを用いた低消費電力指向ドントケア判定・割当て同時最適化法
三澤健一郎,細川利典,山崎紘史,吉村正義,新井雅之
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, Feb. 2020, Not invited

SATを用いたSDNルールテーブル分割法の高速化に関する検討
小笠原亮太,新井雅之
電子情報通信学会コンピュータシステム，ディペンダブルコンピューティング研究会，情報処理学会システム・アーキテクチャ研究会合同研究会 (HotSPA2019), Jun. 2019, Not invited

最大充足化問題を用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法
山崎紘史,細川利典,吉村正義,新井雅之,四柳浩之,橋爪正樹
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会(ETNET 2019), Mar. 2019, Not invited

クリティカルエリアを考慮した2パターンテスト生成における故障選択に関する一考察
内山直也,新井雅之
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, Feb. 2019, Not invited

ニューラルネットワークを用いたランダムキャプチャセーフテストベクトル生成について
越智小百合,三澤健一郎,細川利典,山内ゆかり,新井雅之
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会（デザインガイア), Dec. 2018, Not invited

SDNのルールテーブル分割に対するSATベース解法
小笠原亮太,新井雅之
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会，日本信頼性学会合同研究会(Winter Workshop on Safety), Dec. 2018, Not invited

標準車載ネットワークCANの評価手法
佐藤諒平,福本聡,新井雅之
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会，日本信頼性学会合同研究会(Winter Workshop on Safety), Dec. 2018, Not invited

ゼロDPPMに向けた設計およびテスト手法
新井 雅之
DAシンポジウム2018, Aug. 2018, Invited

遅延耐性ネットワークを応用したBAN高信頼化手法に関する一考察
桐井誠倖,新井雅之
2018年並列／分散／協調処理に関する『熊本』サマー・ワークショップ (SWoPP2018), Jul. 2018, Not invited

パワーエレクトロニクスのためのリアルタイム無線データ転送に関する一検討
横山慎悟; 大原衛; 新井雅之
電子情報通信学会コンピュータシステム，ディペンダブルコンピューティング研究会，情報処理学会システム・アーキテクチャ研究会合同研究会 (HotSPA2018), Jun. 2018, Not invited

スマートグリッド通信におけるプライバシー保護を考慮した耐k重故障データ集約に関する一考察
斉藤大貴,小笠原亮太,新井雅之
電子情報通信学会コンピュータシステム，ディペンダブルコンピューティング研究会，情報処理学会システム・アーキテクチャ研究会合同研究会 (HotSPA2018), Jun. 2018, Not invited

CANの応答時間解析に関する一考察
佐藤諒平,酒井和哉,福本聡,大原衛,新井雅之
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会(ETNET 2018), Mar. 2018, Not invited

2パターンテストにおける重み付き故障カバレージに関する一考察
新井雅之,岩崎一彦
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, Feb. 2018, Not invited

Recent research on improvements of smart grid and wireless sensor communications
M. Arai; S. Yokoyama; M. Ohara
Joint Workshop on National Taiwan University of Science and Technology and Tokyo Metropolitan University, Oct. 2017, Not invited

ソフトエラー耐性と性能を考慮したCPUキャッシュメモリ多重化の評価手法に関する一考察
川島 直也,新井 雅之
電子情報通信学会リコンフィギャラブルシステム・コンピュータシステム，ディペンダブルコンピューティング研究会，情報処理学会システム・アーキテクチャ研究会合同研究会 (HotSPA2017), May 2017, Not invited

車載ネットワークCANの解析モデルに関する一考察
佐藤諒平; 酒井和哉; 福本 聡; 新井雅之; 大原 衛
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, Mar. 2017, Not invited

到達不能状態を用いたSATベース順序回路のテスト不能故障判定法
二関森人; 細川利典; 吉村正義; 新井雅之; 四柳浩之; 橋爪正樹
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, Feb. 2017, Not invited

キャプチャセーフテストベクトルを利用した低消費電力指向テスト生成における動的テスト圧縮法
細川利典; 平井淳士; 山崎紘史; 新井雅之
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, Feb. 2017, Not invited

予防安全および使用開始時刻の脱同調に基づくRAID信頼度改善手法に関する一考察
新井雅之; 古川慧史; 渡邉智也
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, Dec. 2016, Not invited

重み付き故障カバレージに基づくテストパターン並替えの高速化手法
犬山慎吾; 岩崎一彦; 新井雅之
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, Nov. 2016, Not invited

スマートグリッド通信におけるフォールトトレランスとプライバシーを考慮したデータ集約に関する一考察
小笠原亮太; 新井雅之
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, Oct. 2016, Not invited

Note on Critical-Area-Aware Test Pattern Generation and Reordering
S. Inuyama; K. Iwasaki; M. Arai
International Test Conference, Oct. 2016, Not invited

無線センサネットワークにおけるマルチパスルーティングに関する一検討
甘利健司,新井雅之
電子情報通信学会総合大会, Mar. 2015, Not invited

近似論理に基づく高信頼設計手法の評価に関する一考察
齋藤晴樹,新井雅之
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, Feb. 2015, Not invited

閾値変更に基づくMLC PCMの高信頼化手法に関する一考察
中野伸哉,新井雅之
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, Feb. 2015, Not invited

重み付き故障カバレージ算出に向けたオープン・ブリッジクリティカルエリアの推定法
新井雅之,岩崎一彦
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, Dec. 2014, Not invited

キャプチャセーフテストベクトルを利用した低消費電力テスト生成法
平井淳士,細川利典,山内ゆかり,新井雅之
デザインガイア2014, Nov. 2014, Not invited

クリティカルエリアに基づくブリッジ故障テスト生成および評価に関する一考察
新井雅之,中山裕太,岩崎一彦
デザインガイア2014, Nov. 2014, Not invited

CANにおけるDC-DCコンバータノイズに対処したハイブリッドARQの一考察
中村宗幸,大原衛,サイサナソンカム アロムハック,新井雅之,酒井和哉
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, Oct. 2014, Not invited

分散レプリケーションの性能・可用性・一貫性に関する評価尺度の検討
福本聡,神田一平,新井雅之
電子情報通信学会信頼性研究会, Aug. 2014, Not invited

ビザンチン故障的に振舞うノードを考慮した構造化P2Pネットワークの探索プロトコル
福本聡,遠藤知輝,大原衛,新井雅之
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, Apr. 2014, Not invited

重み付き故障カバレージ算出に向けたクリティカルエリアの推定に関する一検討
中山裕太,佐久間俊介,新井雅之,史虹波,岩崎一彦
電子情報通信学会総合大会, Mar. 2014, Not invited

BASTにおけるシフトデータ量削減法
田中まりか,山崎紘史,細川利典,吉村正義,新井雅之
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, Feb. 2014, Not invited

異なる欠陥粒径とビアオープンを考慮した重み付き故障カバレージに関する一考察
中山裕太,新井雅之,史虹波,岩崎一彦
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, Feb. 2014, Not invited

ファイルバージョニングを伴うデータレプリケーションプロトコルの最適ノード配置の解析
福本聡,大原衛,新井雅之
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, Dec. 2013, Not invited

BASTにおけるテストデータ量削減のためのインバータブロック構成法
田中まりか,山崎紘史,細川利典,吉村正義,新井雅之,中尾教伸
デザインガイア2013, Nov. 2013, Not invited

Layout-Aware Weighted Bridge/Open Fault Coverage Considering Multiple Defect Sizes
M. Arai; K. Iwasaki
International Test Conference, Sep. 2013, Not invited

分散システムの評価尺度についての一考察
神田一平,新井雅之,福本聡
第12回情報科学技術フォーラム, Sep. 2013, Not invited

レジスタ多重化による耐過渡故障高信頼プロセッサの評価
緑川直樹,小山善史,新井雅之,福本聡
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会・コンピュータシステム研究会, Aug. 2013, Not invited

構造化P2Pネットワークの評価に関する一考察
遠藤知輝; 新井雅之; 福本聡
電子情報通信学会信頼性研究会, Jul. 2013, Not invited

ディジタル・パワー制御の高信頼化に関する試み
今井健太,サイサナソンカム アロムハック; 新井雅之; 福本聡; 和田圭二
電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会・コンピュータシステム研究会, Apr. 2013, Not invited

電子情報通信学会

IEEE

マルチモデルサンプリングに基づくSoCの欠陥レベル見積り及び削減法
Apr. 2019 - Mar. 2022

高電磁環境下での周期的多重過渡故障のオンラインマスク法
Japan Society for the Promotion of Science, Grants-in-Aid for Scientific Research, Apr. 2015 - Mar. 2018
ARAI Masayuki

高電磁環境下の新しい過渡故障モデルに対する耐故障順序回路の検討
Japan Society for the Promotion of Science, Grants-in-Aid for Scientific Research, Apr. 2012 - Mar. 2015
福本 聡

クリティカルエリアサンプリングによるＳｏＣの欠陥レベル削減に関する研究
Japan Society for the Promotion of Science, Grants-in-Aid for Scientific Research, Apr. 2011 - Mar. 2014
ARAI Masayuki

レイアウト情報を用いたＳＯＣ市場不良率予測の高精度化手法に関する研究
Apr. 2011 - Mar. 2014
岩崎 一彦

誤りからの自己回復機能を持つSoCベース・ディペンダブル・プロセッサの基礎的検討
Japan Society for the Promotion of Science, Grants-in-Aid for Scientific Research, Apr. 2006 - Mar. 2009
福本 聡

SAN/NASを用いたSoC設計システム向け高信頼分散ストレージクラスタの研究
Japan Society for the Promotion of Science, Grants-in-Aid for Scientific Research, Apr. 2003 - Mar. 2006
福本 聡

2011-118492, 2009-272996, テストフロー提示コンピュータプログラム、テストフロー提示コンピュータシステム
岩崎 一彦,新井 雅之, 市野 憲一

2009-204402, 2008-46001, 半導体集積回路およびテストパターン発生方法
岩崎 一彦,新井 雅之,周藤 明史

2008-304474, 2008-193798, テスト構成の半導体集積回路
新井 雅之,岩崎 一彦,福本 聡,正田 剛史,西本 順一

2006-292401, 2005-109537, テスト構成の半導体集積回路およびそのテスト方法
新井 雅之,岩崎 一彦,福本 聡,正田 剛史,西本 順一

2004-273044, 2003-63795, 半導体装置の検査方法
佐藤 正幸,大塚 信行,板橋 裕行,村井 崇,山形 優輝,市野 憲一,新井 雅之,福本 聡,岩崎 一彦

2004-101419, 2002-265519, テストパターン発生器における最適初期値の決定方法および装置
市野 憲一,新井 雅之,福本 聡,岩崎 一彦,正田 剛史,佐藤 正幸

2003-258776, 2002-54550, 通信装置、通信システム及びテレビ会議システム
新井 雅之,黒須 一司,大原 衛,鈴木 龍,福本 聡,岩崎 一彦